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IC卡試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

可以做10000N以內(nèi)整個(gè)材料中拉伸、壓縮、彎曲、剝離、刺破等試驗(yàn)，全液晶數(shù)控設(shè)定所需參數(shù)，曲線、位移、力值能動(dòng)態(tài)顯示在數(shù)顯器上，聯(lián)接電腦實(shí)現(xiàn)全電腦控制并打印標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)報(bào)告。

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IC卡扭彎測(cè)試儀 IC卡扭矩測(cè)試儀 IC卡彎曲測(cè)試儀 IC卡彎曲試驗(yàn)機(jī) IC卡試驗(yàn)機(jī) IC卡彎曲性能測(cè)試機(jī) IC扭矩測(cè)試儀本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)16649.1等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn);外形尺寸：L670 X W380 X H220

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